Um der wachsenden Nachfrage nach hochpräziser Temperaturüberwachung in der Halbleiter- und Photovoltaikproduktion gerecht zu werden, hat unser Unternehmen eine Reihe von Hochleistungsprofil-Thermoelementen für die Prüfung der Ofeninnentemperatur auf den Markt gebracht.
Diese Serie ist in zwei Typen für Diffusionsöfen und Oxidationsöfen unterteilt, wobei die Graduierungen S/R und K/N erhältlich sind. Mit einem maximalen Messbereich von bis zu 1100 Grad und verschiedenen Messpunkten von 3 bis 9 ermöglicht es eine flächendeckende Temperaturerfassung von Siliziumwafern. Das Thermoelement besteht aus hochwertigen Quarz- und Edelstahlmaterialien und zeichnet sich durch geringe Messfehler, schnelle thermische Reaktion und lange Lebensdauer aus. Mittlerweile ist das Produkt auf eine umweltfreundliche Leistung optimiert, die den Wafer-Produktionsprozess nicht beeinträchtigt.
Dank der flexiblen Montage und der individuellen Anpassung der Sondenlänge, des Durchmessers und des Installationsmodus ist es vielseitig einsetzbar für Diffusionsöfen, Oxidationsöfen, Glühöfen und andere Kernproduktionsanlagen. Unser Profil-Thermoelement liefert stabile und genaue thermische Profildaten und hilft Unternehmen, die Prozesseffizienz und Produktausbeute zu verbessern.
Wir werden die Temperatursensorlösungen weiter optimieren, um die qualitativ hochwertige Entwicklung der globalen Halbleiter- und PV-Industrie zu unterstützen.